Испытательный комплекс для проверки и селекции МОП-транзисторов | Эдендра
Placeholder
SKU: null Availability: not in Stock

Испытательный комплекс для проверки и селекции МОП-транзисторов

StumbleUponEmail

Описание

Испытательный комплекс для проверки и селекции транзисторов предназначен для выявления неисправностей транзисторов и подбора их по величине сопротивления перехода сток-исток в открытом состоянии до установки их на силовую плату.  Назначение Комплекса     Стенд испытаний предназначен для проверки и селекции полевых транзисторов по величине сопротивления перехода сток-исток в открытом состоянии и выявления их неисправностей. Комплекс позволяет диагностировать следующие неисправности транзисторов: пробой затвора; обрыв затвора; пробой в цепи сток-исток; обрыв в цепи сток-исток.     Анализируя совокупность этих параметров, а также, измеряя сопротивление перехода, сток-исток в открытом состоянии, комплекс делает заключение о работоспособности транзисторов и сортирует их по пяти кассам. В каждую из касс попадают такие транзисторы, что при их установке на силовую плату необходимость в подборе установок токов для них отпадает. Характеристика: Каждая испытательная установка изготавливается исключительно по техническому (индивидуальному)  заданию заказчика. Данная позиция представлена как один из вариантов.   Точность измерения активного сопротивления перехода сток-исток в открытом состоянии 0.5%; Время диагностики восьми транзисторов – до 15 сек; Испытательный стенд сохраняет свои технические характеристики при питании его от сети переменного тока напряжением (220+/- 40) В, частотой 50 Гц; Мощность, потребляемая комплексом от сети при номинальном напряжении, не более 50 Вт; Время непрерывной работы комплекса не ограничено.   Спецификация: Наименование единицы Количество   Процессорный блок со встроенной механической частью (механическая часть служит для установки диагностируемых транзисторов – 8 штук)  1  Техническое описание и инструкция по эксплуатации комплекса     Дополнительно: Функциональная схема Комплекса Описание функциональной схемы: 
После установки диагностируемых транзисторов на механическую часть комплекса и запуска теста происходят следующие действия. МП включает силовое питание, измеряет падение напряжения и ток, протекающий через транзисторы, и производит вычисление активного сопротивления транзисторов. Для каждого транзистора эта операция производится отдельно. Блок измерительных коммутаций выбирает измеряемый транзистор в измерительной части. Блок нормирования сигнала приводит измеряемую величину к уровню, необходимому для работы процессора.